Bij het FOM-Instituut voor Atoom- en Molecuulfysica (AMOLF) in Amsterdam is een speciale rastertunnelmicroscoop (Scanning Tunneling Microscope: STM) ontwikkeld voor snelle metingen bij hoge temperaturen. Met deze STM kunnen temperatuurafhankelijke oppervlakteverschijnselen op atomaire schaal worden onderzocht. In dit artikel beschrijven we twee met de STM waargenomen diffusieprocessen aan metaaloppervlakken, namelijk de snelle bewegingen van monoatomaire stappen en het 'nano-sinteren' van een oppervlak aan de STM-naald.